Image-Based Fractal Description of Microstructures - J.M. Li - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402075070 - 31 de julio de 2003
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J.M. Li
Image-Based Fractal Description of Microstructures 2003 edition

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Fractal analysis has rapidly become an important field in materials science and engineering with broad applications to theoretical analysis and quantitative description of microstructures of materials. Fractal measurement, error analysis and fractal description of cluster growth, thin films and surfaces are emphasized in this book.

272 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 31 de julio de 2003
ISBN13 9781402075070
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 272
Dimensiones 155 × 235 × 17 mm   ·   616 g
Lengua Inglés  

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