Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications - Nan Yao - Libros - Cambridge University Press - 9780521831994 - 13 de septiembre de 2007
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Nan Yao
Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications

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This edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the focused ion beam and two beam technology. Presenting the basic principles, capabilities, challenges, advantages, applications and when best to implement the technology, this is a valuable resource for researchers in materials science, electrical engineering and nanotechnology.

408 pages, 196 b/w illus.

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 13 de septiembre de 2007
ISBN13 9780521831994
Editores Cambridge University Press
Páginas 408
Dimensiones 252 × 180 × 29 mm   ·   952 g
Lengua Inglés  
Editor Yao, Nan (Princeton University, New Jersey)

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