Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications - Nan Yao - Libros - Cambridge University Press - 9780521158596 - 14 de abril de 2011
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Nan Yao
Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications

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This edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the focused ion beam and two beam technology. Presenting the basic principles, capabilities, challenges, advantages, applications and when best to implement the technology, this is a valuable resource for researchers in materials science, electrical engineering and nanotechnology.

408 pages, black & white illustrations

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 14 de abril de 2011
ISBN13 9780521158596
Editores Cambridge University Press
Páginas 408
Dimensiones 169 × 246 × 24 mm   ·   668 g
Lengua Inglés  
Editor Yao, Nan (Princeton University, New Jersey)

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