Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis - Methods of Surface Characterization - A W Czanderna - Libros - Springer Science+Business Media - 9780306458965 - 31 de octubre de 1998
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A W Czanderna
Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis - Methods of Surface Characterization 2002 edition

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The guidance given in these chapters allows the scientist to understand how to obtain the most precise and understood measu- ments that are currently possible and, where there are inevitable problems, to have clear guidance as the extent of the problem and its likely behavior.

430 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 31 de octubre de 1998
ISBN13 9780306458965
Editores Springer Science+Business Media
Páginas 430
Dimensiones 156 × 234 × 25 mm   ·   811 g
Editor Czanderna, Alvin W.
Editor Madey, Theodore E.
Editor Powell, Cedric J.

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