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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Patrick Echlin 1986 edition
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Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Patrick Echlin
This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.
454 pages, biography
| Medios de comunicación | Libros Hardcover Book (Libro con lomo y cubierta duros) |
| Publicado | 31 de marzo de 1986 |
| ISBN13 | 9780306421402 |
| Editores | Springer Science+Business Media |
| Páginas | 454 |
| Dimensiones | 156 × 234 × 27 mm · 721 g |
| Lengua | Inglés |
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