Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach - Xiaowei Li - Libros - Springer Verlag, Singapore - 9789811985539 - 3 de marzo de 2024
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Xiaowei Li
Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach 2023 edition

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The proposed built-in on-chip fault-tolerant computing paradigm has been verified in a broad range of scenarios, from small processors in satellite computers to large processors in HPCs.

304 pages, 1 Illustrations, black and white; XVIII, 304 p. 1 illus.

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 3 de marzo de 2024
ISBN13 9789811985539
Editores Springer Verlag, Singapore
Páginas 304
Dimensiones 150 × 220 × 10 mm   ·   493 g

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