Recent Advances in PMOS Negative Bias Temperature Instability: Characterization and Modeling of Device Architecture, Material and Process Impact -  - Libros - Springer Verlag, Singapore - 9789811661198 - 26 de noviembre de 2021
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Recent Advances in PMOS Negative Bias Temperature Instability: Characterization and Modeling of Device Architecture, Material and Process Impact 2022 edition

Precio
$ 158,99
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 25 de jun. - 8 de jul.
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

También disponible como:

311 pages, 189 Illustrations, color; 24 Illustrations, black and white; XXIII, 311 p. 213 illus., 18

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 26 de noviembre de 2021
ISBN13 9789811661198
Editores Springer Verlag, Singapore
Páginas 311
Dimensiones 150 × 220 × 20 mm   ·   670 g
Editor Mahapatra, Souvik

Mere med samme udgiver