Design for Manufacturability and Yield for Nano-scale Cmos - Integrated Circuits and Systems - Charles Chiang - Libros - Springer - 9789048173037 - 22 de noviembre de 2010
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Charles Chiang
Design for Manufacturability and Yield for Nano-scale Cmos - Integrated Circuits and Systems 1st Ed. Softcover of Orig. Ed. 2007 edition

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This book walks the reader through all the aspects of manufacturability and yield in a nano-CMOS process. It covers all CAD/CAE aspects of a SOC design flow and addresses a new topic (DFM/DFY) critical at 90 nm and beyond. This book is a must read book the serious practicing IC designer and an excellent primer for any graduate student intent on having a career in IC design or in EDA tool development.

255 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 22 de noviembre de 2010
ISBN13 9789048173037
Editores Springer
Páginas 255
Dimensiones 156 × 234 × 15 mm   ·   408 g
Lengua Inglés  

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