Berührungslose Defektanalytik Von Halbleitermaterialien: Modellierung Und Quantitative Analyse Der Mikrowellendetektierten Photoleitfähigkeit - Dr. Torsten Hahn - Libros - Südwestdeutscher Verlag für Hochschulsch - 9783838124407 - 18 de mayo de 2011
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Dr. Torsten Hahn
Berührungslose Defektanalytik Von Halbleitermaterialien: Modellierung Und Quantitative Analyse Der Mikrowellendetektierten Photoleitfähigkeit German edition

Precio
$ 65,49
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 24 de jun. - 7 de jul.

Nuestros clientes opinan:

Política de devolución de 14 días conforme a la legislación europea de protección de los consumidores
Mejor valorado en Trustpilot
Añadir a tu lista de deseos de iMusic
Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 18 de mayo de 2011
ISBN13 9783838124407
Editores Südwestdeutscher Verlag für Hochschulsch
Páginas 152
Dimensiones 150 × 9 × 226 mm   ·   244 g
Lengua Alemán  

Mere med samme udgiver

Ver todo de Dr. Torsten Hahn ( Ej. Paperback Book )