Sekundarionen- und Neutralteilchenmassenspektrometrie an oxidischen Dunnschichtsystemen: Der Einfluss ionenbeschussindizierter Prozesse auf die Sekundarteilchenemission im Zerstaubungsgleichgewicht und an Schichtgrenzflachen - Dieter Lipinsky - Libros - Deutscher Universitatsverlag - 9783824420667 - 1995
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Sekundarionen- und Neutralteilchenmassenspektrometrie an oxidischen Dunnschichtsystemen: Der Einfluss ionenbeschussindizierter Prozesse auf die Sekundarteilchenemission im Zerstaubungsgleichgewicht und an Schichtgrenzflachen 1995 edition

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Entrega prevista 15 de sep. - 2 de oct.
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211 pages, black & white illustrations, bibliography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 1995
ISBN13 9783824420667
Editores Deutscher Universitatsverlag
Páginas 211
Dimensiones 155 × 235 × 12 mm   ·   312 g
Lengua Alemán  

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