Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics - Peter Pichler - Libros - Springer Verlag GmbH - 9783709172049 - 1 de noviembre de 2012
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Peter Pichler
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics Softcover reprint of the original 1st ed. 2004 edition

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This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon.

554 pages, 40 black & white illustrations, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 1 de noviembre de 2012
ISBN13 9783709172049
Editores Springer Verlag GmbH
Páginas 554
Dimensiones 178 × 254 × 30 mm   ·   1,01 kg
Lengua Inglés  

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