Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy - NanoScience and Technology - Bert Voigtlander - Libros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783662505571 - 13 de octubre de 2016
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Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy - NanoScience and Technology Softcover reprint of the original 1st ed. 2015 edition

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This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope.


397 pages, 41 black & white illustrations, 148 colour illustrations, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 13 de octubre de 2016
ISBN13 9783662505571
Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 382
Dimensiones 155 × 235 × 21 mm   ·   557 g
Lengua Alemán  

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