Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures: An Analysis of Composition and Strain State - Springer Tracts in Modern Physics - Andreas Rosenauer - Libros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783662146187 - 20 de noviembre de 2013
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Transmission Electron Microscopy of Semiconductor Nanostructures: An Analysis of Composition and Strain State - Springer Tracts in Modern Physics Softcover reprint of the original 1st ed. 2003 edition

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This book provides tools well suited for thequantitative investigation of semiconductor electron microscopy. The bookfocuses on new methods including strain stateanalysis as well as evaluation of the compositionvia the lattice fringe analysis (CELFA) technique.


253 pages, 186 black & white illustrations, 47 colour illustrations, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 20 de noviembre de 2013
ISBN13 9783662146187
Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 241
Dimensiones 155 × 235 × 14 mm   ·   362 g
Lengua Alemán  

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