Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects - Springer Series in Solid-State Sciences - J. Bourgoin - Libros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642818349 - 8 de diciembre de 2011
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects - Springer Series in Solid-State Sciences Softcover reprint of the original 1st ed. 1983 edition

Precio
$ 106,99
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 23 de jun. - 6 de jul.
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

In introductory solid-state physics texts we are introduced to the concept of a perfect crystalline solid with every atom in its proper place.


295 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 8 de diciembre de 2011
ISBN13 9783642818349
Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 295
Dimensiones 155 × 235 × 17 mm   ·   449 g
Lengua Inglés  

Mas por J. Bourgoin

Mostrar todo

Mere med samme udgiver