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Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects - Springer Series in Solid-State Sciences J. Bourgoin Softcover reprint of the original 1st ed. 1983 edition
Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects - Springer Series in Solid-State Sciences
J. Bourgoin
In introductory solid-state physics texts we are introduced to the concept of a perfect crystalline solid with every atom in its proper place.
295 pages, biography
| Medios de comunicación | Libros Paperback Book (Libro con tapa blanda y lomo encolado) |
| Publicado | 8 de diciembre de 2011 |
| ISBN13 | 9783642818349 |
| Editores | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| Páginas | 295 |
| Dimensiones | 155 × 235 × 17 mm · 449 g |
| Lengua | Inglés |
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