Angewandte Oberflachenanalyse Mit Sims Sekundar-ionen-massenspektrometrie Aes Auger-elektronen-spektrometrie Xps Rontgen-photoelektronen-spektrometrie - M. Grasserbauer - Libros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642701788 - 6 de diciembre de 2011
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Angewandte Oberflachenanalyse Mit Sims Sekundar-ionen-massenspektrometrie Aes Auger-elektronen-spektrometrie Xps Rontgen-photoelektronen-spektrometrie Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1986 edition

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302 pages, black & white illustrations

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 6 de diciembre de 2011
Fecha de lanzamiento original 2012
ISBN13 9783642701788
Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 302
Dimensiones 170 × 244 × 17 mm   ·   503 g
Lengua Alemán  

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