Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis: Theory and Applications - Springer Series in Materials Science - Andrei Benediktovich - Libros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642381768 - 18 de septiembre de 2013
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Andrei Benediktovich
Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis: Theory and Applications - Springer Series in Materials Science 2014 edition

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The principle features of the book are: basics of X-ray scattering, interaction between X-rays and matter and new theoretical concepts of X-ray scattering. The various X-ray techniques are considered in detail: high-resolution X-ray diffraction, X-ray reflectivity, grazing-incidence small-angle X-ray scattering and X-ray residual stress analysis.

310 pages, 71 black & white illustrations, 37 colour illustrations, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 18 de septiembre de 2013
ISBN13 9783642381768
Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 318
Dimensiones 155 × 235 × 23 mm   ·   521 g
Lengua Alemán  

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