Seizo Morita
Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2 - NanoScience and Technology Seizo Morita 2009 edition

Name: Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2 - NanoScience and Technology
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Author: Seizo Morita

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Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2 - NanoScience and Technology

Seizo Morita

2009 edition

Since the original publication of Noncontact Atomic Force Microscopy in 2002, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. This second treatment deals with the following outstanding recent results obtained with atomic resolution since then: force spectroscopy and mapping with atomic resolution;

419 pages, 28 black & white illustrations, 77 colour illustrations, 7 black & white tables, biograph

Medios de comunicación	Libros Paperback Book (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado	14 de marzo de 2012
ISBN13	9783642260704
Editores	Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas	401
Dimensiones	234 × 157 × 31 mm · 585 g
Lengua	Francés
Editor	Giessibl, Franz J.
Editor	Morita, Seizo
Editor	Wiesendanger, Roland