Positron Annihilation in Semiconductors: Defect Studies - Springer Series in Solid-State Sciences - Reinhard Krause-Rehberg - Libros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642084034 - 1 de diciembre de 2010
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Reinhard Krause-Rehberg
Positron Annihilation in Semiconductors: Defect Studies - Springer Series in Solid-State Sciences Softcover reprint of hardcover 1st ed. 1999 edition

Precio
$ 210,49
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 29 de jun. - 10 de jul.

Nuestros clientes opinan:

Política de devolución de 14 días conforme a la legislación europea de protección de los consumidores
Mejor valorado en Trustpilot
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

También disponible como:

The subject of this book is the investigation of lattice imperfections in semiconductors by means of positron annihilation. The sensitivity range of positron annihilation with respect to the detection of these defects is compared to that of other defect-sensitive methods.

383 pages, 121 black & white illustrations, 20 black & white tables, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 1 de diciembre de 2010
ISBN13 9783642084034
Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 383
Dimensiones 232 × 156 × 47 mm   ·   626 g
Lengua Inglés  

Mere med samme udgiver

Ver todo de Reinhard Krause-Rehberg ( Ej. Hardcover Book y Paperback Book )