Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching: Application to Rough and Natural Surfaces - NanoScience and Technology - Gerd Kaupp - Libros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642066634 - 12 de febrero de 2010
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Gerd Kaupp
Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching: Application to Rough and Natural Surfaces - NanoScience and Technology 1st ed. Softcover of orig. ed. 2006 edition

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Making a clear distinction is made between nano- and micro-mechanical testing for physical reasons, this monograph describes the basics and applications of the supermicroscopies AFM and SNOM, and of the nanomechanical testing on rough and technical natural surfaces in the submicron range down to a lateral resolution of a few nm.

308 pages, 7 black & white tables, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 12 de febrero de 2010
ISBN13 9783642066634
Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 292
Dimensiones 156 × 233 × 20 mm   ·   466 g
Lengua Inglés  

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