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Modeling and Simulation of Gate Mislaignment Effect in Mosfets Sharma Rupendra Kumar
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Modeling and Simulation of Gate Mislaignment Effect in Mosfets
Sharma Rupendra Kumar
| Medios de comunicación | Libros Paperback Book (Libro con tapa blanda y lomo encolado) |
| Publicado | 7 de julio de 2015 |
| ISBN13 | 9783639708028 |
| Editores | Scholars\' Press |
| Páginas | 156 |
| Dimensiones | 152 × 229 × 9 mm · 250 g |
| Lengua | Alemán |
