Metrica De Idoneidad De Ontologias - Lozano-tello Adolfo - Libros - Publicia - 9783639646177 - 26 de enero de 2015
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Metrica De Idoneidad De Ontologias

Precio
$ 82,99
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 24 de jun. - 7 de jul.
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

Publisher Marketing: El metodo OntoMetric permite a los usuarios medir la idoneidad de las ontologias existentes respecto a las necesidades de sus sistemas. En el texto se realiza una identificacion de un marco multinivel de 160 caracteristicas que deben ser consideradas para evaluar ontologias. Se proporciona el modelo conceptual de una ontologia en el dominio de las ontologias, Reference Ontology, que esta basada en el marco multinivel de caracteristicas. Se ha elaborado un metodo basado en el metodo de jerarquias analiticas que mide la idoneidad de un conjunto de ontologias candidatas que pueden ser incorporadas en un nuevo sistema. El metodo ofrece una medida cuantitativa de su idoneidad y sirve para decidir, de forma justificada, que ontologias son las mas adecuadas para el sistema que el usuario va a desarrollar. Se describe tambien el soporte tecnologico que asiste al metodo.

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 26 de enero de 2015
ISBN13 9783639646177
Editores Publicia
Páginas 244
Dimensiones 152 × 229 × 14 mm   ·   381 g
Lengua Alemán  

Mere med samme udgiver