Ludwig Reimer
Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis - Springer Series in Optical Sciences Ludwig Reimer 2nd completely rev. and updated ed. 1998 edition

Name: Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis - Springer Series in Optical Sciences
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis - Springer Series in Optical Sciences

Ludwig Reimer

2nd completely rev. and updated ed. 1998 edition

The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.

529 pages, biography

Medios de comunicación	Libros Hardcover Book (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado	17 de septiembre de 1998
ISBN13	9783540639763
Editores	Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas	529
Dimensiones	242 × 166 × 34 mm · 975 g
Lengua	Alemán
Colaborador	Peter W Hawkes