Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis - Springer Series in Optical Sciences - Ludwig Reimer - Libros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540639763 - 17 de septiembre de 1998
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis - Springer Series in Optical Sciences 2nd completely rev. and updated ed. 1998 edition

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The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.


529 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 17 de septiembre de 1998
ISBN13 9783540639763
Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 529
Dimensiones 242 × 166 × 34 mm   ·   975 g
Lengua Alemán  
Colaborador Peter W Hawkes

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