Applied Scanning Probe Methods: Characterization - Nanoscience and Technology - Donna R. Kemp - Libros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540373186 - 18 de octubre de 2006
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Donna R. Kemp
Applied Scanning Probe Methods: Characterization - Nanoscience and Technology 1st edition

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Presents 10 chapters on a variety of techniques and refinements of Scanning Probe Methods (SPM) applications.

338 pages, 7 black & white tables, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 18 de octubre de 2006
ISBN13 9783540373186
Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 338
Dimensiones 155 × 235 × 19 mm   ·   648 g
Lengua Inglés  
Editor Bhushan, Bharat
Editor Fuchs, Harald
Editor Kawata, Satoshi

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