Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology - Bharat Bhushan - Libros - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540269090 - 22 de febrero de 2006
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Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology 2006 edition

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There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.


378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 22 de febrero de 2006
ISBN13 9783540269090
Editores Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Páginas 378
Dimensiones 166 × 243 × 21 mm   ·   716 g
Lengua Alemán  
Editor Bhushan, Bharat
Editor Fuchs, Harald

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