Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults - Ireneusz Mrozek - Libros - Springer International Publishing AG - 9783319912035 - 18 de julio de 2018
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Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults 1st ed. 2019 edition

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This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.


135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 18 de julio de 2018
ISBN13 9783319912035
Editores Springer International Publishing AG
Páginas 135
Dimensiones 150 × 220 × 20 mm   ·   454 g
Lengua Francés  

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