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Reliability and Yield in Nanoelectronics Manufacturing Wei-Ting Kary Chien
Reliability and Yield in Nanoelectronics Manufacturing
Wei-Ting Kary Chien
| Medios de comunicación | Libros Hardcover Book (Libro con lomo y cubierta duros) |
| Publicado | 15 de julio de 2026 |
| ISBN13 | 9783032231895 |
| Editores | Springer Nature Switzerland AG |
| Páginas | 506 |
| Dimensiones | 150 × 220 × 20 mm · 1,09 kg |
| Lengua | Alemán |