Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation - Fangzhou Xia - Libros - Springer International Publishing AG - 9783031442322 - 7 de febrero de 2024
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Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation 2024 edition

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From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM).


370 pages, 200 Tables, color; 125 Illustrations, color; 13 Illustrations, black and white; XXIV, 370

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 7 de febrero de 2024
ISBN13 9783031442322
Editores Springer International Publishing AG
Páginas 366
Dimensiones 150 × 220 × 20 mm   ·   823 g
Lengua Alemán  

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