Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies - Antonio Manuel Lourenco Canelas - Libros - Springer Nature Switzerland AG - 9783030415389 - 21 de marzo de 2021
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Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies 2020 edition

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This book presents a new methodology with reduced time impact to address the problem of analog integrated circuit (IC) yield estimation by means of Monte Carlo (MC) analysis, inside an optimization loop of a population-based algorithm.


237 pages, 87 Tables, color; 97 Illustrations, color; 42 Illustrations, black and white; XXIII, 237

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 21 de marzo de 2021
ISBN13 9783030415389
Editores Springer Nature Switzerland AG
Páginas 237
Dimensiones 150 × 220 × 10 mm   ·   371 g
Lengua Alemán  

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