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Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization Sheldon Tan 2019 edition
Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization
Sheldon Tan
460 pages, 195 Illustrations, color; 16 Illustrations, black and white; XLI, 460 p. 211 illus., 195
| Medios de comunicación | Libros Hardcover Book (Libro con lomo y cubierta duros) |
| Publicado | 25 de septiembre de 2019 |
| ISBN13 | 9783030261719 |
| Editores | Springer Nature Switzerland AG |
| Páginas | 460 |
| Dimensiones | 150 × 220 × 20 mm · 916 g |
| Lengua | Alemán |