Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization - Sheldon Tan - Libros - Springer Nature Switzerland AG - 9783030261719 - 25 de septiembre de 2019
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Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization 2019 edition

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460 pages, 195 Illustrations, color; 16 Illustrations, black and white; XLI, 460 p. 211 illus., 195

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 25 de septiembre de 2019
ISBN13 9783030261719
Editores Springer Nature Switzerland AG
Páginas 460
Dimensiones 150 × 220 × 20 mm   ·   916 g
Lengua Alemán  

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