Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes - Edmund G. Seebauer - Libros - Springer London Ltd - 9781848820586 - 1 de diciembre de 2008
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes 2009 edition

Precio
$ 158,49
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 19 de jun. - 2 de jul.
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

También disponible como:

"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.


298 pages, 30 black & white tables, biography

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 1 de diciembre de 2008
ISBN13 9781848820586
Editores Springer London Ltd
Páginas 298
Dimensiones 155 × 235 × 25 mm   ·   635 g
Lengua Inglés  

Mere med samme udgiver