Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties - Pierre-Richard Dahoo - Libros - ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc - 9781786306401 - 16 de marzo de 2021
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Pierre-Richard Dahoo
Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties

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256 pages

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 16 de marzo de 2021
ISBN13 9781786306401
Editores ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
Páginas 256
Dimensiones 150 × 220 × 20 mm   ·   526 g
Lengua Inglés  

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