Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition) - Erni, Rolf (Swiss Federal Labs For Materials Science & Technology (Empa), Switzerland) - Libros - Imperial College Press - 9781783265282 - 18 de mayo de 2015
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Aberration-corrected Imaging In Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition) 2.º edición

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Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy provides an introduction to aberration-corrected atomic-resolution electron microscopy imaging in materials and physical sciences.


350 pages

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 18 de mayo de 2015
ISBN13 9781783265282
Editores Imperial College Press
Páginas 432
Dimensiones 160 × 238 × 23 mm   ·   802 g
Lengua Inglés  

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