Nanometrology Using Transmission Electron Microscopy - Vlad Stolojan - Libros - Morgan & Claypool Publishers - 9781681740560 - 12 de octubre de 2015
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Vlad Stolojan
Nanometrology Using Transmission Electron Microscopy

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The Transmission Electron Microscope (TEM) is the ultimate tool to see and measure structures on the nanoscale and to probe their elemental composition and electronic structure with sub-nanometer spatial resolution. This book is a practical guide for scientists who need to use the TEM as a tool to answer questions about physical and chemical phenomena on the nanoscale.

85 pages, colour illustrations

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 12 de octubre de 2015
ISBN13 9781681740560
Editores Morgan & Claypool Publishers
Páginas 85
Dimensiones 178 × 256 × 10 mm   ·   136 g
Lengua Inglés  

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