An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science - IOP Concise Physics - Sarah Fearn - Libros - Morgan & Claypool Publishers - 9781681740249 - 16 de octubre de 2015
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Sarah Fearn
An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science - IOP Concise Physics

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Highlights the application of Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) for high-resolution surface analysis and characterization of materials. While providing a brief overview of the principles of SIMS, it also provides examples of how dual-beam ToF-SIMS is used to investigate a range of materials systems and properties.

66 pages, colour illustrations

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 16 de octubre de 2015
ISBN13 9781681740249
Editores Morgan & Claypool Publishers
Páginas 66
Dimensiones 177 × 256 × 8 mm   ·   181 g
Lengua Inglés  

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