An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science - IOP Concise Physics - Sarah Fearn - Libros - Morgan & Claypool Publishers - 9781643279107 - 16 de octubre de 2015
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Sarah Fearn
An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science - IOP Concise Physics

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66 pages

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 16 de octubre de 2015
ISBN13 9781643279107
Editores Morgan & Claypool Publishers
Páginas 66
Dimensiones 150 × 220 × 20 mm   ·   340 g

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