Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to Thin Film Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection - Harland G. Tompkins - Libros - Momentum Press - 9781606507278 - 16 de diciembre de 2015
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Harland G. Tompkins
Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to Thin Film Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection

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178 pages

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 16 de diciembre de 2015
ISBN13 9781606507278
Editores Momentum Press
Páginas 178
Dimensiones 150 × 220 × 10 mm   ·   267 g
Lengua Inglés  

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