Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection - Fred Stevie - Libros - Momentum Press - 9781606505885 - 15 de septiembre de 2015
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Fred Stevie
Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection

Precio
$ 63,99
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 15 de jun. - 2 de jul.

Nuestros clientes opinan:

Política de devolución de 14 días conforme a la legislación europea de protección de los consumidores
Mejor valorado en Trustpilot
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

150 pages

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 15 de septiembre de 2015
ISBN13 9781606505885
Editores Momentum Press
Páginas 150
Dimensiones 152 × 229 × 16 mm   ·   390 g
Lengua Inglés  

Mere med samme udgiver

Ver todo de Fred Stevie ( Ej. Paperback Book )