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Materials, Processes and Reliability for Advanced Interconnects for Micro- and Nanoelectronics — 2009: Volume 1156 - MRS Proceedings M Gall
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Materials, Processes and Reliability for Advanced Interconnects for Micro- and Nanoelectronics — 2009: Volume 1156 - MRS Proceedings
M Gall
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
189 pages, illustrations
| Medios de comunicación | Libros Hardcover Book (Libro con lomo y cubierta duros) |
| Publicado | 18 de noviembre de 2009 |
| ISBN13 | 9781605111292 |
| Editores | Materials Research Society |
| Páginas | 204 |
| Dimensiones | 160 × 235 × 15 mm · 400 g |
| Lengua | Inglés |
| Editor | Gall, Martin |
| Editor | Grill, Alfred (IBM T J Watson Research Center, New York) |
| Editor | Koike, Junichi (Tohoku University, Japan) |
| Editor | Lacopi, Francesca |
| Editor | Usui, Takamasa |
