Recomienda este artículo a tus amigos:
CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings
Precio
$ 130,99
sin IVA
Pedido desde almacén remoto
Entrega prevista 15 de jun. - 2 de jul.
Nuestros clientes opinan:
Añadir a tu lista de deseos de iMusic
También disponible como:
CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
179 pages, illustrations
| Medios de comunicación | Libros Hardcover Book (Libro con lomo y cubierta duros) |
| Publicado | 19 de noviembre de 2009 |
| ISBN13 | 9781605111285 |
| Editores | Materials Research Society |
| Páginas | 194 |
| Dimensiones | 160 × 236 × 18 mm · 432 g |
| Lengua | Inglés |
| Editor | Butterbaugh, Jeffery W. |
| Editor | Demkov, Alexander A. (University of Texas, Austin) |
| Editor | Harris, H. Rusty (Texas A & M University) |
| Editor | Rachmady, Willy |
| Editor | Taylor, Bill |
