Electron Beam Testing Technology - Microdevices - John T L Thong - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489915245 - 4 de junio de 2013
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

John T L Thong
Electron Beam Testing Technology - Microdevices Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

Precio
$ 169,99
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 16 - 29 de jun.

Nuestros clientes opinan:

Política de devolución de 14 días conforme a la legislación europea de protección de los consumidores
Mejor valorado en Trustpilot
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

También disponible como:

Although exploratory and developmental activity in electron beam testing (EBT) 25 years, it was not had already been in existence in research laboratories for over until the beginning of the 1980s that it was taken up seriously as a technique for integrated circuit (IC) testing.

480 pages, black & white illustrations

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 4 de junio de 2013
ISBN13 9781489915245
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 462
Dimensiones 178 × 254 × 24 mm   ·   825 g
Lengua Inglés  
Editor Thong, John T.L.

Ver todo de John T L Thong ( Ej. Hardcover Book y Paperback Book )