Crystal Growth and Evaluation of Silicon for VLSI and ULSI - Eranna, Golla (Central Electronics Engineering Research Institute (CEERI), Pilani, India) - Libros - Taylor & Francis Inc - 9781482232813 - 8 de diciembre de 2014
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Crystal Growth and Evaluation of Silicon for VLSI and ULSI 1.º edición

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Written for engineers and researchers working in semiconductor fabrication industries, this book discusses the systematic growth of Si single crystals using standard techniques with add-on layers for specific applications. It is one of the first books to cover the complete evaluation of Si wafers, from sand to useful wafers for device fabrication. The book shows how to evaluate the suitability of Si wafers in VLSI and ULSI processing technology before implementing the highly sophisticated and systematically drawn process methodology.


430 pages, 264 black & white illustrations, 23 black & white tables

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 8 de diciembre de 2014
ISBN13 9781482232813
Editores Taylor & Francis Inc
Páginas 430
Dimensiones 178 × 254 × 28 mm   ·   952 g
Lengua Inglés  

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