Atomic Force Microscopy / Scanning Tunneling Microscopy 2 - Samuel H Cohen - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475793277 - 4 de junio de 2013
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Atomic Force Microscopy / Scanning Tunneling Microscopy 2 Softcover reprint of the original 1st ed. 1997 edition

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También disponible como:

Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994


259 pages, 250 black & white illustrations, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 4 de junio de 2013
ISBN13 9781475793277
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 250
Dimensiones 178 × 254 × 14 mm   ·   462 g
Lengua Inglés  
Editor Cohen, Samuel H.
Editor Lightbody, Marcia L.

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