Point and Extended Defects in Semiconductors - NATO Science Series B - Giorgio Benedek - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781468457117 - 16 de abril de 2013
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Point and Extended Defects in Semiconductors - NATO Science Series B Softcover reprint of the original 1st ed. 1989 edition

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The systematic study of defects in semiconductors began in the early fifties. Most participants are currently working on defect problems in either silicon submicron technology or in quantum wells and superlattices, where point defects, dislocations, interfaces and surfaces are closely packed together.


300 pages, black & white illustrations

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 16 de abril de 2013
ISBN13 9781468457117
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 287
Dimensiones 178 × 254 × 15 mm   ·   521 g
Lengua Inglés  
Editor Benedek, Giorgio

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