Testing and Diagnosis of Analog Circuits and Systems - Ruey-wen Liu - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461597490 - 8 de marzo de 2012
En caso de que portada y título no coincidan, el título será el correcto

Ruey-wen Liu
Testing and Diagnosis of Analog Circuits and Systems Softcover reprint of the original 1st ed. 1991 edition

Precio
$ 65,49
sin IVA

Pedido desde almacén remoto

Entrega prevista 19 de ago. - 7 de sep.
Recibe notificaciones sobre nuevos lanzamientos de Ruey-wen Liu

Nuestros clientes opinan:

Política de devolución de 14 días conforme a la legislación europea de protección de los consumidores
Mejor valorado en Trustpilot
Añadir a tu lista de deseos de iMusic

Aún no valorado

Unfortunately, the prob lem for analog circuits is fundamentally different from and much more diffi cult than its counterpart for digital circuits. Therefore, even Ix x Preface though the analog circuit may be small, the total circuit under testing is large.

284 pages, 2 black & white illustrations, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 8 de marzo de 2012
ISBN13 9781461597490
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 284
Dimensiones 152 × 229 × 16 mm   ·   408 g
Lengua Inglés  

Más del mismo editor

Ver todo de Ruey-wen Liu ( Ej. Paperback Book )