Helium Ion Microscopy: Principles and Applications - SpringerBriefs in Materials - David C. Joy - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461486596 - 14 de septiembre de 2013
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Helium Ion Microscopy: Principles and Applications - SpringerBriefs in Materials 2013 edition

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Helium Ion Microscopy: Principles and Applications describes the theory and discusses the practical details of why scanning microscopes using beams of light ions - such as the Helium Ion Microscope (HIM) - are destined to become the imaging tools of choice for the 21st century.


72 pages, 13 black & white illustrations, 16 colour illustrations, 2 black & white tables, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 14 de septiembre de 2013
ISBN13 9781461486596
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 64
Dimensiones 155 × 235 × 8 mm   ·   158 g
Lengua Inglés  

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