Analog IC Reliability in Nanometer CMOS - Analog Circuits and Signal Processing - Elie Maricau - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461461623 - 9 de enero de 2013
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Elie Maricau
Analog IC Reliability in Nanometer CMOS - Analog Circuits and Signal Processing 2013 edition

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This book focuses on modeling, simulation and analysis of analog circuit aging. Then, transistor aging compact models for circuit simulation are discussed and several methods for efficient circuit reliability simulation are explained and compared.

240 pages, 68 black & white illustrations, 27 colour illustrations, 16 black & white tables

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 9 de enero de 2013
ISBN13 9781461461623
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 198
Dimensiones 160 × 243 × 17 mm   ·   453 g
Lengua Inglés  

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