Nanometer Variation-Tolerant SRAM: Circuits and Statistical Design for Yield - Mohamed Abu Rahma - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461417484 - 27 de septiembre de 2012
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Mohamed Abu Rahma
Nanometer Variation-Tolerant SRAM: Circuits and Statistical Design for Yield 2013 edition

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This essential reference combines state-of-the-art circuit techniques and statistical methodologies to optimize SRAM performance and yield in nanometer technologies. It shows designers how to apply practical techniques that optimize memory yield.

210 pages, 147 black & white illustrations, 6 colour illustrations, 5 black & white tables, biograph

Medios de comunicación Libros     Hardcover Book   (Libro con lomo y cubierta duros)
Publicado 27 de septiembre de 2012
ISBN13 9781461417484
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 172
Dimensiones 155 × 235 × 15 mm   ·   385 g
Lengua Inglés  

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