Advances in X-Ray Analysis: Volume 17: Proceedings of the Twenty-Second Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis held in Denver, August 22-24, 1973 - C Grant - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461399773 - 28 de mayo de 2013
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C Grant
Advances in X-Ray Analysis: Volume 17: Proceedings of the Twenty-Second Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis held in Denver, August 22-24, 1973 Softcover reprint of the original 1st ed. 1974 edition

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The successful application of x-r~ diffraction techniques and x-r~ spectrometry depends in large measure on the availability of dependable standards and reference data. One of the purposes of the invited papers in this 22nd Annual Denver X-Ray Conference was tc review the status of programs to prepare such standards and reference data.

610 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 28 de mayo de 2013
ISBN13 9781461399773
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 596
Dimensiones 178 × 254 × 31 mm   ·   1,05 kg
Lengua Inglés  
Editor Grant, C.

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