Advances in X-Ray Analysis: Volume 28 - Charles S Barrett - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461294993 - 4 de octubre de 2011
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Charles S Barrett
Advances in X-Ray Analysis: Volume 28 Softcover reprint of the original 1st ed. 1985 edition

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The 33rd Annual Denver Conference on Applications of X-Ray Analysis was held July 30-August 3. Following the recent tradition of alternating plenary lecture topics between X-ray diffraction and X-ray fluorescence at the confer ence. Total reflectance X-ray spectrometry takes advantage of con sideration of the geometry of the X-ray optics.

408 pages, black & white illustrations

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 4 de octubre de 2011
ISBN13 9781461294993
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 408
Dimensiones 178 × 254 × 21 mm   ·   712 g
Lengua Inglés  
Editor Barrett, Charles S.
Editor Predecki, Paul K.

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