Hierarchical Modeling for Vlsi  Circuit Testing - the Springer International Series in Engineering and Computer Science - Debashis Bhattacharya - Libros - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461288190 - 26 de septiembre de 2011
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Hierarchical Modeling for Vlsi Circuit Testing - the Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1990 edition

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160 pages, biography

Medios de comunicación Libros     Paperback Book   (Libro con tapa blanda y lomo encolado)
Publicado 26 de septiembre de 2011
ISBN13 9781461288190
Editores Springer-Verlag New York Inc.
Páginas 160
Dimensiones 155 × 235 × 10 mm   ·   254 g
Lengua Inglés  

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